中兴通讯取得散热测试专利，提升芯片散热测试的精度和测试周期

　　据国家知识产权局公告，中兴通讯股份有限公司取得一项名为“一种散热测试方法及系统和发热装置“，授权公告号CN111800305B，申请日期为2019年4月。

　　专利摘要显示，本发明提供了一种散热测试方法及系统和发热装置，其中散热测试方法，应用于散热测试系统，该散热测试系统包括发热装置和散热装置，其中，该发热装置包括电源单元、发热单元和温度传感器，该电源单元和该发热单元相连，该方法包括：根据该电源单元输出功率调整该发热单元的发热功率；测量该发热单元的温度；在到达预设温度阈值的情况下，启动散热装置进行散热处理。通过本发明，解决了相关技术中开发过程中芯片散热测试精度低周期长的问题，提升芯片散热测试的精度和测试周期。