来源 :金融界2024-01-12
据国家知识产权局公告，中兴通讯股份有限公司申请一项名为“缺陷检测方法、缺陷检测设备及存储介质“，公开号CN117392042A，申请日期为2022年6月。
专利摘要显示，本发明实施例提供一种缺陷检测方法、缺陷检测设备及存储介质，属于人工智能技术领域。该缺陷检测方法包括：获取待检测目标的目标图像集，确定目标图像集中的目标图像是否存在疑似缺陷区域；其中，疑似缺陷区域为待检测目标上可能存在的缺陷区域；获取存在疑似缺陷区域的目标图像，得到缺陷图像集；将缺陷图像集输入训练好的分类网络模型；通过训练好的分类网络模型识别缺陷图像集中目标图像上的疑似缺陷区域，得到目标图像的真实缺陷区域以及相应的真实缺陷类型。本发明实施例的技术方案，通过先获取疑似缺陷区域，再利用分类网络模型进行分类，不再需要获取大量的待检测目标的图像样本，依旧能够准确识别出待检测目标缺陷区域以及缺陷的类型。