TCL科技申请缺陷检测专利

　　2024年1月9日消息，据国家知识产权局公告，TCL科技集团股份有限公司申请一项名为“缺陷检测方法、装置、设备和存储介质“，公开号CN117372321A，申请日期为2022年7月。

　　专利摘要显示，本申请提供一种缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质，该缺陷检测方法包括：获取待检测的显示屏的显示图像；基于预设背景图像对所述显示图像进行差分处理，得到背景差分图像；根据预设的分割阈值，对所述背景差分图像进行分割，得到所述背景差分图像的缺陷区域；根据所述缺陷区域的亮度信息对所述缺陷区域进行缺陷分析，得到所述待检测显示屏的目标缺陷。本申请的方法能够实现有效地检测显示屏中各对比度层级的显示缺陷，并对该显示缺陷进行量化检测，提高检测稳定性和检测效率。