来源 :金融界2023-12-21
2023年12月21日消息，据国家知识产权局公告，杭州长川科技股份有限公司取得一项名为“并行校准电路、自动测试设备及测试系统“，授权公告号CN220207839U，申请日期为2023年5月。
专利摘要显示，本申请涉及半导体自动化测试领域，特别是涉及一种并行校准电路、自动测试设备及测试系统。并行校准电路包括：至少两路信号采集链路，分别与各校准通道组一一对应连接，用于并行采集校准通道组中任一校准通道的第一待测模拟信号，并转换为第一待测数字信号；控制器，与至少两路信号采集链路连接，用于获取各第一待测数字信号以及控制各校准通道组中校准通道的切换；上位机，与控制器连接，用于根据控制器发送的各第一待测数字信号，分别生成对应校准通道的第一校准参数。本技术方案对于半导体自动化测试领域来说，通过并行处理，能够显著缩短校准时间，并提高了校准通道的校准效率。