来源 :金融界2024-02-07
2024年2月7日消息,据国家知识产权局公告,武汉长盈通光电技术股份有限公司申请一项名为“测量双包层增益光纤包层泵浦吸收系数的方法“,公开号CN117516871A,申请日期为2023年10月。
专利摘要显示,一种测量双包层增益光纤包层泵浦吸收系数的方法,提供一种光路搭建简洁,操作步骤简单,测试光路稳定性高,测试结果精确的双包层增益光纤的包层泵浦吸收系数的测量方法;采用的是直接使用藤仓100P+熔接机自动推进进行空间耦合,极大的简化了测量的操作步骤,解决了待测双包层增益光纤直接耦合进光谱仪中因耦合距离所带来的损耗,优化了现有的双包层增益光纤包层泵浦吸收系数的测试方法。操作方法简单,较易上手操作,解决了光纤熔接时的熔接点损耗、熔接耗时、操作复杂,光路搭建繁琐,测试结果准确性低的问题。