联影医疗取得用于散射校准的系统和方法专利，能有效确定散射分量

　　据国家知识产权局公告，上海联影医疗科技股份有限公司取得一项名为“用于散射校准的系统和方法“，授权公告号CN110914868B，申请日期为2018年10月。

　　专利摘要显示，本申请提供了一种处理投影数据的方法。所述方法可以包括通过第一成像设备获取通过对对象执行第一扫描生成的第一图像；基于第一图像确定第一投影数据，第一投影数据对应于对象的第一区域；通过使用第二成像设备执行对象的第二扫描获取第二投影数据，第二投影数据对应于对象的第二区域，第一区域与第二区域在重叠区域中至少部分重叠；通过根据重叠区域，将第一投影数据配准到第二投影数据，确定配准的第一投影数据；基于配准的第一投影数据和第二投影数据，确定散射分量，所述散射分量包括低频散射辐射信号。