艾为电子申请电容检测专利，提高待检测电容的电容测量精度

　　据国家知识产权局公告，上海艾为电子技术股份有限公司申请一项名为“电容检测方法及检测装置、电子设备“，公开号CN117538618A，申请日期为2023年11月。

　　专利摘要显示，本申请提供一种电容检测方法，用于电容检测装置，该方法包括：获取检测通道的第一检测通道电容值和参考通道的第一参考通道电容值，根据第一参考通道电容值，在预先构建的参考通道电容值与电容补偿值映射表中查询，确定对应的第一电容补偿值，根据第一电容补偿值对第一检测通道电容值进行补偿，确定补偿后的检测通道电容值，从而避免不准确的检测通道电容值对待检测电容的电容值的影响，提高待检测电容的电容测量精度，避免相关的误判。本申请还提供一种电容检测装置。